ElektroPrůmysl.cz AUTOMATIZACE, ŘÍZENÍ A REGULACE prosinec 2022 | 53 ce. Maximální měřitelná tloušťka vrstvy je 1,4 mm a lze jí měřit kdekoliv ve vzdálenosti až 70 mm, což rozšiřuje možnosti aplikace a integrace. Novinka – měření ve více vrstvách Nově lze změřit více vrstev různého transparentního materiálu s možností nastavení indexů lomu pro každou vrstvu. Tato MP (multi-peak) verze kontroléru je dostupná jak pro systémy měřící tloušťku TH, tak pro DS systémy měřící vzdálenost. Hlavním rozdílem tedy je, že systém TH měří tloušťku 5 vrstev absolutně ve vzdálenosti až 70 mm, DS systém změří vzdálenost k až 14 vrcholům (13 vrstev), ale jen v rámci rozsahu 2,1 mm. Tloušťku tak lze vypočítat rozdílem vzdálenosti vrcholů i u ISM5x00-DS/MP podobně jako u konfokálních systémů. Protože nelze kombinovat měření vzdálenosti s měřením tloušťky, může být výpočet tloušťky pomocí vzdálenostních hodnot jednotlivých vrstev cestou ve Vaší aplikaci. Stabilní měřicí systém i pro vakuum Interferometr je absolutní měřicí systém, což umožňuje přímé srovnání výsledků naměřených z několika měření. Pokud vypnete a znovu zapnete absolutní měřící systém, dostanete vždy stejnou hodnotu oproti relativnímu měření. Vzhledem k možnosti laboratorního využití je snímač v provedení použitelném ve vakuu. Teplotní stabilita je výborná při teplotách od 15°C do 35°C. Praktické použití – aplikace V průmyslu jsou interferometry od Micro- Epsilon používány pro měření tloušťky skla či fólií a pro nejrůznější měření vzdálenosti v oblasti výroby mikroelektroniky a polovodičů. Využití jistě najde i ve strojírenství či při výrobě přesné mechaniky v čistém prostředí. V poslední době rychle se rozvíjející bateriový průmysl interferometry využije pro měření tloušťky povlaků elektrod a to i mokrých vrstev. Interferometr podporuje průmyslová rozhraní PROFINET, EtherCAT, EtherNetIP a další. Své uplatnění najde také tam, kde již svým rozlišením nebudou stačit konfokální systémy confocal DT. MICRO-EPSILON Czech Republic s.r.o. Na Libuši 891, 391 65 Bechyně Tel.: +420 381 213 011 E-mail: info@micro-epsilon.cz www.micro-epsilon.cz Interferometry DS pro měření vzdálenosti tvoří referenci zrcátkem, interferometry TH měřící tloušťku porovnávají odrazy začátku a konce vrstvy materiálu Pro větší mechanickou stabilitu měření můžete zakoupit speciální držák hlavy senzoru
RkJQdWJsaXNoZXIy Mjk3NzY=